IEC 62149-9:2014
Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 9: Transceptores amplificadores ópticos semiconductores reflectantes sembrados.

Estándar No.
IEC 62149-9:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 62149-9:2014
Reemplazar
IEC 86C/1145/CDV:2013
Alcance
"Esta parte de IEC 62149 cubre la especificación de rendimiento para transceptores amplificadores ópticos semiconductores reflectantes (RSOA) utilizados para aplicaciones de transmisión de datos ópticos y telecomunicaciones por fibra óptica. El estándar de rendimiento contiene una definición de los requisitos de rendimiento del producto junto con una serie de conjuntos de pruebas y mediciones con condiciones@gravedades@ y criterios de aprobación/falla claramente definidos. Las pruebas están destinadas a realizarse "una sola vez" para demostrar la capacidad de cualquier producto para satisfacer los requisitos del estándar de rendimiento. Un producto que ha sido "demuestra que cumple con todos los requisitos de una norma de desempeño puede declararse que cumple con la norma de desempeño@ pero luego debe ser controlado por un programa de garantía de calidad/conformidad de calidad".

IEC 62149-9:2014 Documento de referencia

  • IEC 60068-2-20:2008 Pruebas ambientales - Parte 2: Pruebas - Prueba T: Métodos de prueba para la soldabilidad y la resistencia al calor de soldadura de dispositivos con cables
  • IEC 60068-2-27:2008 Pruebas ambientales - Parte 2-27: Pruebas - Prueba Ea y orientación: Choque
  • IEC 60068-2-38:2009 Pruebas ambientales - Parte 2-38: Pruebas - Prueba Z/AD: Prueba cíclica compuesta de temperatura/humedad
  • IEC 60068-2-6:2007 Pruebas ambientales - Parte 2-6: Pruebas - Prueba Fc: Vibración (sinusoidal)
  • IEC 60068-2-78:2012 Pruebas ambientales - Parte 2-78: Pruebas - Cabina de prueba: Calor húmedo, estado estable
  • IEC 60749-25:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.
  • IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
  • IEC 60825-1:2007 Seguridad de los productos láser - Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos
  • IEC 60950-1:2005 Equipos de tecnología de la información - Seguridad - Parte 1: Requisitos generales
  • IEC 61300-2-47:2010 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2-47: Pruebas. Choques térmicos
  • IEC Guide 107:2009 Compatibilidad electromagnética – Guía para la redacción de publicaciones de compatibilidad electromagnética
  • ITU-T G.691-2006 Interfaces ópticas para STM-64 de un solo canal y otros sistemas SDH con amplificadores ópticos
  • ITU-T G.698.3-2012 Aplicaciones DWDM multicanal con interfaces ópticas de un solo canal (Grupo de Estudio 15)

IEC 62149-9:2014 Historia

  • 2014 IEC 62149-9:2014 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Normas de rendimiento. Parte 9: Transceptores amplificadores ópticos semiconductores reflectantes sembrados.



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