IEC 60749-26:2013
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Estándar No.

IEC 60749-26:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2018-01

Remplazado por

IEC 60749-26:2018

Ultima versión

IEC 60749-26:2018

Reemplazar

IEC 47/2160/FDIS:2013 IEC 60749-26:2006

Alcance

Esta norma establece el procedimiento para probar, evaluar y clasificar componentes y microcircuitos según su susceptibilidad (sensibilidad) al daño o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo de cuerpo humano (HBM) definido.

IEC 60749-26:2013 Historia

• 2018 IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• 2013 IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• 2006 IEC 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• 2003 IEC 60749-26:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo del cuerpo humano (HBM)