KS L 1619-2003
Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de sonda de cuatro puntos

Estándar No.
KS L 1619-2003
Fecha de publicación
2003
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
 2013-10
Remplazado por
KS L 1619-2013
Ultima versión
KS L 1619-2013(2018)
Alcance
Esta norma define un método para probar la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras mediante el método de las cuatro sondas.

KS L 1619-2003 Historia

  • 0000 KS L 1619-2013(2018)
  • 2013 KS L 1619-2013 Métodos de prueba para la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras con una matriz de sondas de cuatro puntos
  • 2003 KS L 1619-2003 Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de sonda de cuatro puntos



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