KS L 1619-2013(2018)
Métodos de prueba para la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras con una matriz de sondas de cuatro puntos

Estándar No.

KS L 1619-2013(2018)

Fecha de publicación

2013

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

KS L 1619-2013(2018)

KS L 1619-2013(2018) Historia

• 0000 KS L 1619-2013(2018)
• 2013 KS L 1619-2013 Métodos de prueba para la resistividad de películas delgadas cerámicas conductoras con una matriz de sondas de cuatro puntos
• 2003 KS L 1619-2003 Métodos de prueba para medir la resistividad de películas delgadas cerámicas eléctricamente conductoras con el método de sonda de cuatro puntos