IEC 60749-26:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo del cuerpo humano (HBM)

Estándar No.

IEC 60749-26:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2006-07

Remplazado por

IEC 60749-26:2006

Ultima versión

IEC 60749-26:2018

Alcance

Establece un procedimiento estándar para probar y clasificar dispositivos semiconductores según su susceptibilidad a sufrir daños o degradación por exposición a una descarga electrostática modelo definida del cuerpo humano. El objetivo es proporcionar confiabilidad, repetición

IEC 60749-26:2003 Historia

• 2018 IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• 2013 IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• 2006 IEC 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
• 2003 IEC 60749-26:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo del cuerpo humano (HBM)