IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 60749 establece el procedimiento para probar, evaluar y clasificar componentes y microcircuitos según su susceptibilidad (sensibilidad) a daños o degradación por exposición a una descarga electrostática (ESD) de un modelo definido de cuerpo humano (HBM). El objetivo del documento es establecer un método de prueba que reproduzca los fallos de HBM y proporcione resultados de prueba de ESD de HBM fiables y repetibles de un probador a otro, independientemente del tipo de componente. Los datos repetibles permitirán clasificaciones y comparaciones precisas de los niveles de sensibilidad de ESD de HBM. Pruebas de ESD de dispositivos semiconductores se selecciona de este método de prueba @ el método de prueba del modelo de máquina (MM) (ver IEC 60749-27) u otros métodos de prueba ESD en la serie IEC 60749. A menos que se especifique lo contrario @ este método de prueba es el seleccionado.

IEC 60749-26:2018 Historia

2018 IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
2013 IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
2006 IEC 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
2003 IEC 60749-26:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD); Modelo del cuerpo humano (HBM)