ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional define las cantidades más importantes que caracterizan a un espectrómetro de rayos X de energía dispersiva que consta de un detector semiconductor, un preamplificador y una unidad de procesamiento de señales como partes esenciales. Esta norma internacional sólo es aplicable a espectrómetros con detectores semiconductores que funcionan según el principio de ionización de estado sólido. Esta norma internacional especifica los requisitos mínimos y la relevancia de los parámetros de rendimiento instrumental que deben verificarse para tales espectrómetros conectados a un microscopio electrónico de barrido (SEM) o a un microanalizador de sonda electrónica (EPMA). El procedimiento utilizado para el análisis real se describe en las normas ISO 22309[2] y ASTM E1508[3] y está fuera del alcance de esta norma internacional.

ISO 15632:2012 Documento de referencia

ISO 23833 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario*， 2013-04-01 Actualizar

2021 ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
2012 ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
2002 ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores