IEC 60749-7/COR1:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.

Estándar No.

IEC 60749-7/COR1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2011-06

Remplazado por

IEC 60749-7:2011

Ultima versión

IEC 60749-7:2011

Alcance

Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-7-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales)

IEC 60749-7/COR1:2003 Historia

• 2011 IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
• 2003 IEC 60749-7/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
• 2002 IEC 60749-7:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.

IEC 60749-7/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. ha sido cambiado a IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales..