IEC 60749-7:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
- Estándar No.
- IEC 60749-7:2002
- Fecha de publicación
- 2002
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- 2011-06
- Remplazado por
- IEC 60749-7/COR1:2003
- Ultima versión
- IEC 60749-7:2011
- Alcance
- El propósito de esta parte de IEC 60749 es probar y medir el contenido de vapor de agua y otros gases de la atmósfera dentro de un dispositivo herméticamente sellado de metal o cerámica. Es aplicable a dispositivos semiconductores sellados de esta manera, pero generalmente solo se usa para aplicaciones de alta confiabilidad, como las militares o aeroespaciales. Puede ser destructivo (Métodos 1 y 2) o no destructivo (Método 3).
IEC 60749-7:2002 Historia
- 2011 IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
- 2003 IEC 60749-7/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
- 2002 IEC 60749-7:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
