IEC 60749-21:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad.
Inicio
IEC 60749-21:2011
Estándar No.
IEC 60749-21:2011
Fecha de publicación
2011
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 60749-21:2011
Reemplazar
IEC 47/2082/FDIS:2011
IEC 60749-21:2005
IEC 60749-21:2011 Historia
2011
IEC 60749-21:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad.
2005
IEC 60749-21:2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad.
2004
IEC 60749-21:2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 21: Soldabilidad.
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