SY/T 5163-2010
Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SY/T 5163-2010
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- Professional Standard - Petroleum
- Estado
- 2019-03
- Remplazado por
- SY/T 5163-2018
- Ultima versión
- SY/T 5163-2018
- Reemplazar
- SY/T 5163-1995 SY/T 6210-1996 SY/T 5983-1994
- Alcance
- Esta norma especifica el método analítico para determinar el contenido de minerales arcillosos y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias utilizando tecnología de difracción de rayos X (DRX) y los requisitos de calidad para los resultados del análisis. Esta norma se aplica a minerales arcillosos y cuarzo, calcita, dolomita, ankerita, siderita, anhidrita, yeso, mirabilita anhidra, barita, pirita, halita, plagioclasa, feldespato potásico en rocas sedimentarias. Análisis cualitativo y cuantitativo de minerales no arcillosos comunes, como caliza, glauberita, zeolita y analcima.
SY/T 5163-2010 Historia
- 2018 SY/T 5163-2018 Método de análisis de difracción de rayos X de minerales arcillosos y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias
- 2010 SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X.
- 1995 SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias
- 1995 SY/T 5983-1994 Método de identificación por difracción de rayos X de minerales de capas intermedias de illita/esmectita
SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X. ha sido cambiado a SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias.
SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X. ha sido cambiado a SY/T 5983-1994 Método de identificación por difracción de rayos X de minerales de capas intermedias de illita/esmectita.
