Esta norma especifica el método para identificar minerales de capas intermedias de illita/esmectita y calcular la relación de capas intermedias utilizando tecnología de difracción de rayos X. Esta norma es aplicable a la identificación de minerales intercapa de illita/esmectita en muestras de rocas sedimentarias.
SY/T 5983-1994 Historia
2018SY/T 5163-2018 Método de análisis de difracción de rayos X de minerales arcillosos y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias
2010SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X.
1995SY/T 5983-1994 Método de identificación por difracción de rayos X de minerales de capas intermedias de illita/esmectita
SY/T 5983-1994 Método de identificación por difracción de rayos X de minerales de capas intermedias de illita/esmectita ha sido cambiado a SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X..