SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias (Versión en inglés)
Esta norma especifica la preparación de muestras, las condiciones de prueba, los métodos de análisis cuantitativo y los requisitos de calidad para los resultados de los análisis utilizando tecnología de difracción de rayos X para determinar la cantidad total de minerales arcillosos y el contenido de minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias. Esta norma se aplica a la cantidad total de minerales arcillosos en rocas sedimentarias y cuarzo, calcita, dolomita, ankerita, siderita, anhidrita, yeso, mirabilita anhidra, barita, pirita, halita, plagioclasa. Análisis cualitativo y cuantitativo de minerales no arcillosos comunes como como feldespato potásico, glauberita, turbidita y analcima.
SY/T 6210-1996 Historia
2018SY/T 5163-2018 Método de análisis de difracción de rayos X de minerales arcillosos y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias
2010SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X.
1996SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias
SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias ha sido cambiado a SY/T 5163-2010 Método de análisis de minerales arcillosos y minerales ordinarios no arcillosos en rocas sedimentarias mediante difracción de rayos X..