SJ 2355.2-1983
Método de medición de la caída de tensión directa de dispositivos emisores de luz. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ 2355.2-1983
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1983
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Estado
- 2010-01
- Remplazado por
- SJ/T 11394-2009
- Ultima versión
- SJ/T 11394-2009
SJ 2355.2-1983 Historia
- 2009 SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores.
- 1983 SJ 2355.2-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de dispositivos emisores de luz.
SJ 2355.2-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de dispositivos emisores de luz. ha sido cambiado a SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores..
