2009SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores.
1983SJ 2355.4-1983 Métodos de medición de la capacitancia de unión de dispositivos emisores de luz.
SJ 2355.4-1983 Métodos de medición de la capacitancia de unión de dispositivos emisores de luz. ha sido cambiado a SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores..