DIN EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares; Versión alemana EN 50513:2009
DIN 5043-2 pigmentos y pinturas luminiscentes radiactivos; método de medición de luminancia y designación de pinturas luminiscentes
DIN 50431 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.
DIN 50434 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; detección de defectos cristalinos en silicio monocristalino mediante técnicas de grabado en superficies {111} y {100}
DIN 50438-1 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación del contenido de impurezas en el silicio mediante absorción infrarroja. Parte 1: Oxígeno.
DIN 50438-2 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; determinación del contenido de impurezas en silicio mediante absorción infrarroja; carbón
DIN 50441-1 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 1: Espesor y variación de espesor.
DIN 50441-5 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de las dimensiones geométricas de obleas semiconductoras. Parte 5: Términos de forma y desviación de planitud.
DIN 879-1 Verificación de parámetros geométricos - Comparador de cuadrante para medición lineal - Parte 1: Con indicación mecánica
EN 50461 Células solares Información sobre la hoja de datos y datos del producto para células solares de silicio cristalino
EN ISO/IEC 17025 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración.*, 2017-12-01 Actualizar
DIN EN 50513:2009 Historia
2009DIN EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares; Versión alemana EN 50513:2009
0000 DIN EN 50513:2008
2007DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007 Obleas solares - Parte 4-2: Proceso para medir las características eléctricas del silicio - Vida útil de los portadores minoritarios, método de medición de laboratorio