DIN 50431:1988
Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.

Estándar No.
DIN 50431:1988
Fecha de publicación
1988
Organización
German Institute for Standardization
Estado
Ultima versión
DIN 50431:1988
Alcance
La norma determina un método de prueba para medir la resistividad eléctrica de monocristales de silicio o germanio mediante el método de corriente continua de cuatro puntas con un conjunto colineal de cuatro sondas.

DIN 50431:1988 Historia

  • 1988 DIN 50431:1988 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.



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