DIN 50431:1988 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.
La norma determina un método de prueba para medir la resistividad eléctrica de monocristales de silicio o germanio mediante el método de corriente continua de cuatro puntas con un conjunto colineal de cuatro sondas.
DIN 50431:1988 Historia
1988DIN 50431:1988 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.