IEC 60269-4:2009
Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.

Estándar No.
IEC 60269-4:2009
Fecha de publicación
2009
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 60269-4:2012
Ultima versión
IEC 60269-4:2009/AMD2:2016
Reemplazar
IEC 32B/535/FDIS:2009 IEC 60269-4:2006
Alcance
Alcance y objeto Estos requisitos suplementarios se aplican a los cartuchos fusibles para su aplicación en equipos que contienen dispositivos semiconductores para circuitos de tensiones nominales de hasta 1 000 V ca o 1 500 V cc y también @ en la medida en que sean aplicables @ para circuitos de tensiones nominales superiores. .NOTA 1 Estos fusibles se denominan comúnmente "fusibles semiconductores". NOTA 2 En la mayoría de los casos, una parte del equipo asociado sirve como base de fusible. Debido a la gran variedad de equipos@ no se pueden dar reglas generales; la idoneidad del equipo asociado para servir como base de fusible debería estar sujeta a un acuerdo entre el fabricante y el usuario. Sin embargo, si se utilizan bases o portafusibles separados, deben cumplir con los requisitos correspondientes de la norma IEC 60269-1. El objeto de estos requisitos suplementarios es establecer las características de los cartuchos fusibles semiconductores de tal manera que puedan ser sustituidos por otros cartuchos fusibles que tengan las mismas características @ siempre que sus dimensiones sean idénticas. A tal efecto@ esta norma se refiere en particular aa) Las siguientes características de los fusibles:1) sus valores nominales;2) sus aumentos de temperatura en servicio normal;3) su disipación de potencia;4) sus características tiempo-corriente;5) su ruptura capacidad;6) sus características de corriente de corte y sus características I2t;7) sus límites de tensión de arco.b) Pruebas de tipo para verificación de las características de los fusibles.c) Las marcas en los fusibles.d) Disponibilidad y presentación de datos técnicos ( ver Anexo B).

IEC 60269-4:2009 Historia

  • 2016 IEC 60269-4:2009/AMD2:2016 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2016 IEC 60269-4:2016 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2012 IEC 60269-4:2009/AMD1:2012 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2012 IEC 60269-4:2012 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2009 IEC 60269-4:2009 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2006 IEC 60269-4:2006
  • 2003 IEC 60269-4/AMD2/COR1:2003 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 2
  • 2002 IEC 60269-4/AMD2:2002 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 2
  • 1995 IEC 60269-4/AMD1:1995 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 1
  • 1986 IEC 60269-4:1986



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