IEC 60269-4/AMD1:1995
Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 1

Estándar No.
IEC 60269-4/AMD1:1995
Fecha de publicación
1995
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 60269-4/AMD2:2002
Ultima versión
IEC 60269-4:2009/AMD2:2016
Reemplazar
IEC 32B/247/FDIS:1995
Alcance
Las modificaciones se aplican a las cláusulas 2, 5, 7 y 8.

IEC 60269-4/AMD1:1995 Historia

  • 2016 IEC 60269-4:2009/AMD2:2016 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2016 IEC 60269-4:2016 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2012 IEC 60269-4:2009/AMD1:2012 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2012 IEC 60269-4:2012 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2009 IEC 60269-4:2009 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores.
  • 2006 IEC 60269-4:2006
  • 2003 IEC 60269-4/AMD2/COR1:2003 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 2
  • 2002 IEC 60269-4/AMD2:2002 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 2
  • 1995 IEC 60269-4/AMD1:1995 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 1
  • 1986 IEC 60269-4:1986

IEC 60269-4/AMD1:1995 Fusibles de baja tensión. Parte 4: Requisitos suplementarios para cartuchos fusibles para la protección de dispositivos semiconductores; Enmienda 1 ha sido cambiado a IEC 60269-4:2006 .




© 2023 Reservados todos los derechos.