IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos; Corrección 2
Esta norma es Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos; Corrección 2.
IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Historia
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2003IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
2002IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos