IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
Esta parte de IEC 60749 define el método de prueba de cambio rápido de temperatura y el método de dos baños de fluido. Cuando ambos métodos de prueba se realizan como parte de la calificación de un dispositivo, los resultados de los ciclos de temperatura aire a aire tienen prioridad sobre este método de prueba de dos baños de fluidos. Este método de prueba también se puede utilizar, empleando menos ciclos (por ejemplo, de 5 a 10 ciclos), para probar el efecto de la inmersión en líquidos calentados que se utilizan para limpiar dispositivos. Esta prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores. Se considera destructivo a menos que se detalle lo contrario en la especificación correspondiente. En general, esta prueba de cambio rápido de temperatura y método de baño de dos fluidos cumple con la norma IEC 60068-2-14 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.
IEC 60749-11:2002 Historia
2003IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos; Corrección 2
2003IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
2002IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos