IEC 60749-11:2002/COR1:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
- Estándar No.
- IEC 60749-11:2002/COR1:2003
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- Remplazado por
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- Ultima versión
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- Alcance
- Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-11-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 11: Cambio rápido de temperatura -Método de dos baños de fluido)
IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Historia
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR2:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos; Corrección 2
- 2003 IEC 60749-11:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
- 2002 IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
