IEC 60749-13:2002/COR1:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.

Estándar No.

IEC 60749-13:2002/COR1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2018-02

Remplazado por

IEC 60749-13:2018

Ultima versión

IEC 60749-13:2018

Alcance

Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-13-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 13: Atmósfera salina)

IEC 60749-13:2002/COR1:2003 Historia

• 2018 IEC 60749-13:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2003 IEC 60749-13:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2002 IEC 60749-13:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.