IEC 60749-13:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.

Estándar No.

IEC 60749-13:2018

Fecha de publicación

2018

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60749-13:2018

Alcance

Esta parte de IEC 60749 describe una prueba de atmósfera salina que determina la resistencia de los dispositivos semiconductores a la corrosión. Es una prueba acelerada que simula los efectos de la atmósfera severa de la costa del mar en todas las superficies expuestas. Solo es aplicable a aquellos dispositivos especificados para una ambiente marino La prueba de atmósfera salina se considera destructiva.

IEC 60749-13:2018 Historia

• 2018 IEC 60749-13:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2003 IEC 60749-13:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2002 IEC 60749-13:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.