IEC 60749-13:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.

Estándar No.

IEC 60749-13:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60749-13:2002/COR1:2003

Ultima versión

IEC 60749-13:2018

Reemplazar

IEC 47/1537A/CDV:2000 IEC 47/1599/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62183:2000

Alcance

Esta parte de IEC 60749 describe una prueba en atmósfera salina que determina la resistencia de los dispositivos semiconductores a la corrosión. Es una prueba acelerada que simula los efectos de la severa atmósfera costera en todas las superficies expuestas. Sólo es aplicable a aquellos dispositivos especificados para un entorno marino. La prueba en atmósfera salina se considera destructiva. En general, esta prueba en atmósfera salina cumple con la norma IEC 60068-2-11 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.

IEC 60749-13:2002 Historia

• 2018 IEC 60749-13:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2003 IEC 60749-13:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2002 IEC 60749-13:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.