Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-12-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 12:Vibración, frecuencia variable)
IEC 60749-12:2002/COR1:2003 Historia
2017IEC 60749-12:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
2003IEC 60749-12:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
2002IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.