IEC 60749-12:2002
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.

Estándar No.

IEC 60749-12:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60749-12:2002/COR1:2003

Ultima versión

IEC 60749-12:2017

Reemplazar

IEC 47/1536A/CDV:2000 IEC 47/1606/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62187:2000

Alcance

Esta parte de IEC 60749 describe una prueba para determinar el efecto de la vibración de frecuencia variable, dentro del rango de frecuencia especificado, en elementos estructurales internos. Esta es una prueba destructiva. Normalmente es aplicable a paquetes de tipo cavidad. En general, esta prueba de vibración de frecuencia variable cumple con la norma IEC 60068-2-6 pero, debido a requisitos específicos de los semiconductores, se aplican las cláusulas de esta norma.

IEC 60749-12:2002 Historia

• 2017 IEC 60749-12:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
• 2003 IEC 60749-12:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
• 2002 IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.