IEC 60749-12:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.

Estándar No.

IEC 60749-12:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 60749-12:2017

Alcance

Esta parte de IEC 60749 describe una prueba para determinar el efecto de la vibración de frecuencia variable@ dentro del rango de frecuencia especificado@ en elementos estructurales internos. Esta es una prueba destructiva. Normalmente es aplicable a paquetes de tipo cavidad. NOTA Este método de prueba describe una prueba de barrido sinusoidal. Una prueba de vibración aleatoria se describe en el documento JEDEC JESD 22-B103.

IEC 60749-12:2017 Historia

• 2017 IEC 60749-12:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
• 2003 IEC 60749-12:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
• 2002 IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.