Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-3-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 3: Examen visual externo)
IEC 60749-3:2002/COR1:2003 Historia
2017IEC 60749-3:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
2003IEC 60749-3:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
2002IEC 60749-3:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.