IEC 60749-9:2002/COR1:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.

Estándar No.

IEC 60749-9:2002/COR1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2017-03

Remplazado por

IEC 60749-9:2017

Ultima versión

IEC 60749-9:2017

Alcance

Este es el Corrigendum Técnico 1 de IEC 60749-9-2002 (Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 9:Permanencia del marcado)

IEC 60749-9:2002/COR1:2003 Historia

• 2017 IEC 60749-9:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.
• 2003 IEC 60749-9:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.
• 2002 IEC 60749-9:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.