GB/T 17574.9-2006
Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2-9: Circuitos integrados digitales. Especificación detallada en blanco para memorias de solo lectura programables eléctricamente y borrables con luz ultravioleta MOS. (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 17574.9-2006
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2006
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 17574.9-2006

Alcance: El sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos de IEC sigue los estatutos de IEC y funciona bajo la autorización de IEC. El propósito del sistema es definir un procedimiento de evaluación de la calidad de tal manera que los componentes electrónicos lanzados por un país participante de acuerdo con las especificaciones relevantes sean aceptados por igual por todos los demás países participantes sin pruebas adicionales.

GB/T 17574.9-2006 Documento de referencia

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2006 GB/T 17574.9-2006 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados. Parte 2-9: Circuitos integrados digitales. Especificación detallada en blanco para memorias de solo lectura programables eléctricamente y borrables con luz ultravioleta MOS.