GB/T 4937-1995
(Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 4937-1995
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1995
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2007-02
- Remplazado por
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- Ultima versión
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- Alcance
- Esta norma enumera los métodos de prueba aplicables a dispositivos semiconductores (circuitos discretos e integrados). Puedes elegir entre ellos cuando los uses. Para dispositivos sin cavidad, es posible que se requieran métodos de prueba complementarios. Nota: Un dispositivo sin cavidad es aquel en el que el material de encapsulación está en contacto íntimo con todas las superficies expuestas del troquel sin ningún vacío en la estructura del dispositivo. Esta norma ha considerado en la medida de lo posible la norma IEC 68 "Procedimientos básicos de prueba ambiental".
GB/T 4937-1995 Historia
- 2006 GB/T 4937.1-2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades
- 1995 GB/T 4937-1995
