GB/T 17574.10-2003
Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados-Parte 2-10: Circuitos integrados digitales-Especificación detallada en blanco para memorias dinámicas de lectura/escritura de circuitos integrados (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 17574.10-2003
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2003
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 17574.10-2003

Alcance: El sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos de IEC sigue los estatutos de IEC y funciona bajo la autorización de IEC. El propósito del sistema es definir un procedimiento de evaluación de la calidad de tal manera que los componentes electrónicos lanzados por un país participante de acuerdo con las especificaciones relevantes sean aceptados por igual por todos los demás países participantes sin pruebas adicionales. Esta especificación detallada en blanco forma parte de una serie de especificaciones detalladas en blanco para dispositivos semiconductores y se utiliza junto con los siguientes estándares.

GB/T 17574.10-2003 Historia

2003 GB/T 17574.10-2003 Dispositivos semiconductores-Circuitos integrados-Parte 2-10: Circuitos integrados digitales-Especificación detallada en blanco para memorias dinámicas de lectura/escritura de circuitos integrados