ISO 23729:2022
Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
- Estándar No.
- ISO 23729:2022
- Fecha de publicación
- 2022
- Organización
- International Organization for Standardization (ISO)
- Ultima versión
- ISO 23729:2022
- Alcance
- Este documento describe un procedimiento para la caracterización cuantitativa de la punta de una sonda de microscopio de fuerza atómica (AFM) y una restauración de imágenes de topografía AFM dilatadas por un tamaño de sonda finito. La forma tridimensional del ápice de la sonda se extrae mediante reconstrucción de imágenes utilizando materiales de referencia adecuados. Este documento es aplicable a la reconstrucción de imágenes topográficas AFM de superficies de materiales sólidos.
ISO 23729:2022 Documento de referencia
- ISO 11775
- ISO 11952 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
- ISO 18115-2 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 23729:2022 Historia
- 2022 ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
