ISO 11775:2015 normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional describe cinco de los métodos para la determinación de constantes de resorte normales para voladizos de microscopios de fuerza atómica con una precisión del 5 % al 10 %. Cada método se encuentra en una de las tres categorías de métodos experimentales dimensionales, estáticos y dinámicos. El método elegido depende del propósito, la conveniencia y la instrumentación disponible para el analista. Para precisiones superiores al 5 % al 10 %, se requieren métodos más sofisticados no descritos aquí.

ISO 11775:2015 Documento de referencia

ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.