JIS K 0143:2023
Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente

Estándar No.

JIS K 0143:2023

Fecha de publicación

2023

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0143:2023

JIS K 0143:2023 Historia

• 2023 JIS K 0143:2023 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente
• 2000 JIS K 0143:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de la concentración atómica de boro en silicio utilizando materiales dopados uniformemente