IEC 63287-1:2021 Dispositivos semiconductores. Directrices genéricas de cualificación de semiconductores. Parte 1: Directrices para la cualificación de la fiabilidad de los circuitos integrados. normas y especificaciones

Estándar No.: IEC 63287-1:2021
Fecha de publicación: 2021
Organización: International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión: IEC 63287-1:2021
Remplazado por: IEC 60749-43:2017 IEC 47/2703/FDIS:2021

Alcance: Esta parte de IEC 63287 proporciona pautas para los planes de calificación de confiabilidad de productos de circuitos integrados semiconductores. Este documento no está destinado a aplicaciones militares y espaciales.

IEC 63287-1:2021 Historia

2021 IEC 63287-1:2021 Dispositivos semiconductores. Directrices genéricas de cualificación de semiconductores. Parte 1: Directrices para la cualificación de la fiabilidad de los circuitos integrados.

IEC 63287-1:2021 Dispositivos semiconductores. Directrices genéricas de cualificación de semiconductores. Parte 1: Directrices para la cualificación de la fiabilidad de los circuitos integrados. ha sido cambiado a IEC 60749-43:2017 Dispositivos de semiconductores - Métodos de ensayos mecánicos y climáticos - Parte 43: Líneas directrices relativas a los planes de calificación de la confiabilidad de CI (Edición 1.0).

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Dispositivos semiconductores. Directrices genéricas de cualificación de semiconductores. Parte 1: Directrices para la cualificación de la fiabilidad de los circuitos integrados.