IEC 60749-43:2017
Dispositivos de semiconductores - Métodos de ensayos mecánicos y climáticos - Parte 43: Líneas directrices relativas a los planes de calificación de la confiabilidad de CI (Edición 1.0)
- Estándar No.
- IEC 60749-43:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- IEC - International Electrotechnical Commission
- Ultima versión
- IEC 60749-43:2017
- Alcance
- Esta parte de IEC 60749 proporciona pautas para los planes de calificación de confiabilidad de productos de circuitos integrados (CI) semiconductores. Este documento no está destinado a aplicaciones militares y espaciales. NOTA 1 El fabricante puede utilizar tamaños de muestra flexibles para reducir costos y mantener una confiabilidad razonable mediante esta adaptación de la guía basada en EDR-4708 @ AEC Q100 @ JESD47 u otro documento relevante que también puede ser aplicable si así se especifica. NOTA 2 El método de distribución de Weibull utilizado en este documento es uno de varios métodos para calcular el tamaño de muestra apropiado y las condiciones de prueba de un proyecto de confiabilidad determinado.
IEC 60749-43:2017 Historia
- 2017 IEC 60749-43:2017 Dispositivos de semiconductores - Métodos de ensayos mecánicos y climáticos - Parte 43: Líneas directrices relativas a los planes de calificación de la confiabilidad de CI (Edición 1.0)
