DIN EN 15991:2016 Ensayos de materiales cerámicos y básicos - Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV); alemán v normas y especificaciones

DIN EN 15991:2016 Documento de referencia

DIN ISO 5725-2:2002 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 2: Método básico para la determinación de la repetibilidad y reproducibilidad de un método de medición estándar (ISO 5725-2:1994, incluido el corrigendum técnico 1:2002).
DIN ISO 5725-4:2003 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 4: Métodos básicos para la determinación de la veracidad de un método de medición estándar (ISO 5725-4:1994)
EN ISO 21068-1:2008 Análisis químico de materias primas y productos refractarios que contienen carburo de silicio. Parte 1: Información general y preparación de muestras (ISO 21068-1:2008)
ISO 5022:1979 Productos refractarios moldeados; Pruebas de muestreo y aceptación.
ISO 5725-2:1994 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 2: Método básico para la determinación de la repetibilidad y reproducibilidad de un método de medición estándar.
ISO 5725-4:1994 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición - Parte 4: Métodos básicos para la determinación de la veracidad de un método de medición estándar
ISO 8656-1:1988 Productos refractarios; muestreo de materias primas y productos sin forma; parte 1: esquema de muestreo
ISO/IEC Guide 98-3:2008 Incertidumbre de medición. Parte 3: Guía para la expresión de la incertidumbre en la medición (GUM:1995)

2016 DIN EN 15991:2016-02 Ensayos de materiales cerámicos y básicos - Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV); Germán...
2016 DIN EN 15991:2016 Ensayos de materiales cerámicos y básicos - Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV); alemán v
2011 DIN EN 15991:2011 Ensayos de materiales cerámicos y básicos - Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV); alemán v
2008 DIN 51096:2008 Ensayos de materias primas y básicas cerámicas: determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) y vaporización electrotérmica (ETV).