ISO 19830:2015
Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

Estándar No.

ISO 19830:2015

Fecha de publicación

2015

Organización

International Organization for Standardization (ISO)

Ultima versión

ISO 19830:2015

ISO 19830:2015 Documento de referencia

• ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
• ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad

ISO 19830:2015 Historia

• 2015 ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X