BS ISO 19668:2017
Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.

Estándar No.
BS ISO 19668:2017
Fecha de publicación
2017
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS ISO 19668:2017

BS ISO 19668:2017 Documento de referencia

  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 11843-6:2013 Capacidad de detección - Parte 6: Metodología para la determinación del valor crítico y del valor mínimo detectable en mediciones distribuidas de Poisson por aproximaciones normales
  • ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
  • ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
  • ISO 18118:2015 
  • ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

BS ISO 19668:2017 Historia

  • 2017 BS ISO 19668:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Estimar y reportar límites de detección para elementos en materiales homogéneos.



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