ISO 10810:2010
Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis

Estándar No.

ISO 10810:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

International Organization for Standardization (ISO)

Estado

Remplazado por

ISO 10810:2019

Ultima versión

ISO 10810:2019

Alcance

Esta norma internacional está destinada a ayudar a los operadores de espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X en su análisis de muestras típicas. Guía al operador a través del análisis, desde el manejo de la muestra y la calibración y configuración del espectrómetro hasta la adquisición de escaneos amplios y estrechos y también brinda consejos sobre la cuantificación y la preparación del informe final.

ISO 10810:2010 Documento de referencia

• ISO 18115-1 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.*， 2023-06-01 Actualizar
• ISO/IEC 17025 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración.*， 2017-11-29 Actualizar

ISO 10810:2010 Historia

• 2019 ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
• 2010 ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis