BS EN 60749-5:2017
Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario

Estándar No.

BS EN 60749-5:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-5:2017

Reemplazar

BS EN 60749-5:2003

BS EN 60749-5:2017 Documento de referencia

• EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)

BS EN 60749-5:2017 Historia

• 2017 BS EN 60749-5:2017 Cambios rastreados. Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario
• 2003 BS EN 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario