EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Ultima versión
EN 60749-4:2017
Alcance
IEC 60749-4:2017(E) proporciona una prueba de estrés de temperatura y humedad (HAST) altamente acelerada con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. Esta edición incluye los siguientes cambios técnicos significativos con respecto a la edición anterior: a) aclaración de los requisitos de temperatura, humedad relativa y duración detallados en la Tabla 1; b) recomendaciones de que se coloquen resistencias limitadoras de corriente en la configuración de prueba para evitar daños a la placa de prueba o al DUT; c) concesión de un retraso adicional en el tiempo hasta la prueba o un retraso en el retorno al estrés.
EN 60749-4:2017 Historia
2017EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
2002EN 60749-4:2002 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de tensión altamente acelerada (HAST)