BS ISO 16700:2016
Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen

Estándar No.
BS ISO 16700:2016
Fecha de publicación
2016
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS ISO 16700:2016
Reemplazar
BS ISO 16700:2004

BS ISO 16700:2016 Documento de referencia

  • ISO 5725-1 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 1: Principios generales y definiciones.*2023-07-01 Actualizar
  • ISO Guide 30 Materiales de referencia: términos y definiciones seleccionados
  • ISO Guide 34 Requisitos generales para la competencia de los productores de materiales de referencia.
  • ISO Guide 35 Certificación de materiales de referencia. Principios generales y estadísticos.*2017-08-21 Actualizar
  • ISO/IEC 17025:2005 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración.
  • ISO/IEC Guide 98-3 Incertidumbre de medición - Guía para la expresión de la incertidumbre en la medición (GUM:1995). Ampliación a cualquier número de cantidades de salida.

BS ISO 16700:2016 Historia

  • 2016 BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
  • 2004 BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes



© 2023 Reservados todos los derechos.