4.1 Hay varios factores que afectan la calidad de una imagen CR, incluida la resolución espacial básica del sistema IP, la falta de nitidez geométrica, la dispersión y la sensibilidad al contraste. Hay varios factores adicionales (por ejemplo, software y parámetros de escaneo) que afectan la lectura precisa de imágenes en IP expuestas utilizando un escáner óptico. 4.2 Esta práctica se utilizará para establecer una caracterización del sistema CR por niveles de rendimiento sobre la base de una SNR normalizada, una resolución espacial básica interpolada del detector y EPS. Los niveles de rendimiento del sistema CR en esta práctica no se refieren a ningún fabricante en particular. placas de imagen. El nivel de rendimiento del sistema CR resulta del uso de una placa de imagen particular junto con las condiciones de exposición, el fantasma estandarizado, el tipo de escáner, el software y los parámetros de escaneo. Este sistema de caracterización proporciona un medio para comparar diferentes tecnologías CR, como es una práctica común con los sistemas de películas, que guía al usuario hacia la configuración, IP y técnica adecuadas para la aplicación en cuestión. Es posible que el nivel de rendimiento seleccionado no coincida con el rendimiento de imagen de una clase de película correspondiente debido a la diferencia en la resolución espacial y la sensibilidad de dispersión. Por lo tanto, el usuario siempre debe utilizar IQI como prueba de sensibilidad al contraste y resolución espacial básica. 4.3 Los parámetros de desempeño medidos se presentan en un cuadro de caracterización. Esto permite a los usuarios seleccionar sistemas CR específicos según los diferentes datos de caracterización para encontrar el mejor sistema para su aplicación específica. 4.4 Los factores de calidad se pueden determinar con mayor precisión mediante las pruebas descritas en esta práctica. Algunas de las pruebas del sistema requieren herramientas especiales, que pueden no estar disponibles en los laboratorios de los usuarios. Se describen pruebas más simples para el control de calidad y las pruebas de estabilidad a largo plazo en la Práctica E2445. 4.5 Los fabricantes de sistemas CR industriales o las agencias de certificación utilizarán esta práctica. Los usuarios de sistemas CR industriales pueden utilizar la Práctica E2445 o realizar algunas de las pruebas y mediciones descritas en esta práctica, siempre que se utilice el equipo de prueba requerido y se siga estrictamente la metodología. Se puede aplicar cualquier método alternativo o calidad de radiación si se demuestra la equivalencia con los métodos de esta práctica ante la organización de ingeniería competente correspondiente. 4.6 La publicación de los niveles de rendimiento del sistema CR permitirá a los organismos especificadores y a las partes contratantes acordar un nivel de rendimiento particular del sistema, como primer paso para llegar a la configuración adecuada de un sistema, o la selección de un sistema. La confirmación de la calidad de imagen necesaria se logrará utilizando la Práctica E2033. 1.1 Esta práctica describe la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada (CR), que consisten en una placa de imágenes de fósforo (IP) particular, un escáner, un software y un monitor de visualización de imágenes, en combinación con pantallas metálicas específicas para aplicaciones industriales. radiografía. 1.2 La práctica define las pruebas del sistema que se utilizarán para caracterizar el s......
ASTM E2446-15 Historia
2023ASTM E2446-23 Práctica estándar para la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada
2016ASTM E2446-16 Práctica estándar para la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada
2015ASTM E2446-15 Práctica estándar para la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada
2005ASTM E2446-05(2010) Práctica estándar para la clasificación de sistemas de radiología computarizada
2005ASTM E2446-05 Práctica estándar para la clasificación de sistemas de radiología computarizada