Hay varios factores que afectan la calidad de una imagen CR, incluida la resolución espacial del sistema IP, la falta de nitidez geométrica, la sensibilidad de dispersión y contraste (relación señal-ruido), así como el software. Hay varios factores adicionales (por ejemplo, parámetros de escaneo) que afectan la lectura precisa de imágenes en IP expuestas utilizando un escáner óptico. Esta práctica se utilizará para establecer una clasificación de clases de sistemas CR sobre la base de una SNR normalizada. Debido a la diferencia entre los métodos, es necesario especificar las clases del sistema CR con valores de resolución espacial. Las clases del sistema CR en este documento no se refieren a ningún fabricante en particular. placas de imagen. Una clase de sistema CR resulta del uso de una placa de imagen específica junto con las condiciones de exposición, en particular la exposición total, el tipo de escáner y el software y los parámetros de escaneo. Este sistema de clasificación proporciona un medio para comparar diferentes tecnologías CR, como es una práctica común con los sistemas de películas, que guía al usuario hacia la configuración, IP y técnica adecuadas para la aplicación en cuestión. Es posible que la clase seleccionada no coincida con el rendimiento de imagen de una clase de película correspondiente debido a la diferencia en la resolución espacial y la sensibilidad de dispersión. Por lo tanto, la práctica siempre debe utilizar IQI como prueba de sensibilidad al contraste y resolución espacial. Los factores de calidad se pueden determinar con mayor precisión mediante las pruebas descritas en esta práctica. Algunas de las pruebas del sistema requieren herramientas especiales, que pueden no estar disponibles en los laboratorios de los usuarios. Se describen pruebas más simples para garantizar la calidad en la Práctica E2445, que están diseñadas para una prueba rápida de la calidad de los sistemas CR y la estabilidad a largo plazo y se recomiendan como pruebas prácticas para el usuario, en caso de que el usuario no tenga las herramientas especiales disponibles necesarias para el pruebas en esta práctica. Los fabricantes de sistemas CR industriales utilizarán esta práctica. Los usuarios de sistemas CR industriales también podrán realizar las pruebas y mediciones descritas en esta práctica, siempre que se utilice el equipo de prueba requerido y se siga estrictamente la metodología. Se puede aplicar cualquier método alternativo si se demuestra la equivalencia de los métodos de esta práctica ante la Organización de Ingeniería Cognizant adecuada. La publicación de las clases de sistemas CR permitirá a los organismos especificadores y a las partes contratantes acordar una clase de sistema particular, como primer paso para llegar a la configuración adecuada de un sistema, o la selección de un sistema. La confirmación de la calidad de imagen necesaria se debe lograr mediante el uso de la Práctica E2033.1.1. Esta práctica describe la evaluación y clasificación de un sistema de radiografía computarizada (CR), una placa de imágenes de fósforo (IP) particular, un escáner de sistema y un software, en combinación con pantallas metálicas específicas. para radiografía industrial. El objetivo es garantizar que la evaluación de la calidad de la imagen, en la medida en que esté influenciada por el escáner/sistema IP, satisfaga las necesidades de los usuarios. 1.2 La práctica define pruebas de sistemas que se utilizarán para clasificar los sistemas de diferentes proveedores y hacerlos comparables para los usuarios. 1.3 El rendimiento del sistema CR se describe mediante parámetros de señal y ruido. Para los sistemas de película, la señal se representa mediante gradiente y el ruido mediante granularidad. La relación señal-ruido está normalizada por la resolución espacial básica del sistema y es parte de la clasificación. La normalización viene dada por la apertura de escaneo de 100 µm de diámetro para el microfotómetro, que se define en el Método de prueba E1815 para el sistema de película...
ASTM E2446-05(2010) Historia
2023ASTM E2446-23 Práctica estándar para la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada
2016ASTM E2446-16 Práctica estándar para la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada
2015ASTM E2446-15 Práctica estándar para la caracterización de fabricación de sistemas de radiografía computarizada
2005ASTM E2446-05(2010) Práctica estándar para la clasificación de sistemas de radiología computarizada
2005ASTM E2446-05 Práctica estándar para la clasificación de sistemas de radiología computarizada