ASTM E1250-15

Estándar No.

ASTM E1250-15

Fecha de publicación

2015

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1250-15(2020)

Ultima versión

ASTM E1250-15(2020)

Alcance

4.1 Aunque los núcleos de Co-60 sólo emiten rayos gamma monoenergéticos a 1,17 y 1,33 MeV, el espesor finito de las fuentes y los materiales de encapsulación y otras estructuras circundantes que están inevitablemente presentes en los irradiadores pueden contribuir con una cantidad sustancial de radiación gamma de energía, principalmente mediante dispersión Compton (1, 2).3 En las pruebas de dureza de la radiación de dispositivos electrónicos, este componente fotónico de baja energía del espectro gamma puede introducir errores dosimétricos significativos para un dispositivo bajo prueba, ya que la dosis absorbida en equilibrio medida por un dosímetro puede ser bastante diferente de la dosis absorbida depositada en el dispositivo bajo prueba debido a los efectos de mejora de la dosis absorbida (3, 4). Los efectos de mejora de la dosis absorbida se refieren a las desviaciones de la dosis absorbida en equilibrio causadas por el transporte de electrones en desequilibrio cerca de los límites entre materiales diferentes. 4.2 La técnica de la cámara de ionización descrita en este método proporciona un medio sencillo para estimar la importancia del componente fotónico de baja energía de cualquier tipo y configuración de irradiador determinado. 4.3 Cuando haya un componente espectral apreciable de baja energía presente en una configuración particular de irradiador, se deberían utilizar técnicas experimentales especiales para garantizar que las mediciones dosimétricas representen adecuadamente la dosis absorbida en el dispositivo bajo prueba. (Ver Práctica E1249.) 1.1 Los componentes de baja energía en el espectro de energía de los fotones de los irradiadores de Co-60 conducen a efectos de mejora de la dosis absorbida en las pruebas de dureza de la radiación de dispositivos electrónicos de silicio. Estos componentes de baja energía pueden provocar errores al determinar la dosis absorbida en un dispositivo específico bajo prueba. Este método cubre procedimientos para el uso de una cámara de ionización especializada para determinar una cifra de mérito para la importancia relativa de tales efectos. También se da el diseño y las instrucciones para el montaje de esta cámara. 1.2 Este método es aplicable a mediciones en campos de radiación Co-60 donde el rango de tasas de exposición es 78201;×8201;10 −6 a 38201;&#&. #x00d7;8201;10&#−2 C kg −1 s−1 (aproximadamente 100 R/h a 100 R/s). Para obtener orientación sobre la aplicación de este método a campos de radiación donde la tasa de exposición es >100 R/s, consulte el Apéndice X1. Nota 1: Consulte Terminología E170 para conocer la definición de exposición y sus unidades. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como estándar. Los valores entre paréntesis son sólo para información. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer normas apropiadas...

ASTM E1250-15 Documento de referencia

• ASTM E1249 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
• ASTM E170 Terminología estándar relacionada con las mediciones de radiación y la dosimetría
• ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos

ASTM E1250-15 Historia

• 2020 ASTM E1250-15(2020) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• 2015 ASTM E1250-15
• 2010 ASTM E1250-10 Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• 1988 ASTM E1250-88(2005) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• 1988 ASTM E1250-88(2000) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio