ASTM E1250-88(2000)
Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio

Estándar No.

ASTM E1250-88(2000)

Fecha de publicación

1988

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1250-88(2005)

Ultima versión

ASTM E1250-15(2020)

Alcance

1.1 Los componentes de baja energía en el espectro de energía de los fotones de los irradiadores de Co-60 producen efectos de mejora de la dosis absorbida en las pruebas de dureza de la radiación de dispositivos electrónicos de silicio. Estos componentes de baja energía pueden provocar errores al determinar la dosis absorbida en un dispositivo específico bajo prueba. Este método cubre procedimientos para el uso de una cámara de ionización especializada para determinar una cifra de mérito para la importancia relativa de tales efectos. También se da el diseño y las instrucciones para el montaje de esta cámara. 1.2 Este método es aplicable a mediciones en campos de radiación de Co-60 donde el rango de tasas de exposición es de 7 X 10 -6 a 3 X 10 -2 C kg -1 s -1 (aproximadamente 100 R/h a 100 R/s) . Para obtener orientación sobre la aplicación de este método a campos de radiación donde la tasa de exposición es >100 R/s, consulte el Apéndice X1. Nota 1: consulte Terminología E170 para conocer la definición de exposición y sus unidades. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse como estándar. Los valores entre paréntesis son sólo para información. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E1250-88(2000) Historia

• 2020 ASTM E1250-15(2020) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• 2015 ASTM E1250-15
• 2010 ASTM E1250-10 Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• 1988 ASTM E1250-88(2005) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
• 1988 ASTM E1250-88(2000) Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio