GB/T 1557-1989
El método para determinar el contenido de oxígeno intersticial en silicio mediante absorción infrarroja. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 1557-1989
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1989
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2006-11
- Remplazado por
- GB/T 1557-2006
- Ultima versión
- GB/T 1557-2018
- Alcance
- Esta norma especifica el método para la determinación del contenido de oxígeno intersticial en cristales de silicio mediante absorción infrarroja. Esta norma es aplicable a la medición del contenido de oxígeno en cristales de silicio con resistividad a temperatura ambiente superior a 0,1Ω·cm. El rango de medición es: la concentración de oxígeno es desde 3,5×1515 en cm-3 hasta la máxima solubilidad sólida.
GB/T 1557-1989 Historia
- 2018 GB/T 1557-2018 Método de prueba para determinar el contenido de oxígeno intersticial en silicio mediante absorción infrarroja.
- 2006 GB/T 1557-2006 El método para determinar el contenido de oxígeno intersticial en silicio mediante absorción infrarroja.
- 1989 GB/T 1557-1989 El método para determinar el contenido de oxígeno intersticial en silicio mediante absorción infrarroja.
